サービス ■標準LSIテスト環境のご提供（別ウィンドウで開きます） 国際的な標準テスト記述言語STIL※に対応した設計、テスト環境を提供いたします。 テスト生成ツール（ATPG）やシミュレータから生成されるSTIL、IPベンダから供給されるSTIL記述のテストデータが利用できるため、効率の良いテスト設計が可能となります。これによりテストデータ作成時間の短縮、テストコストの削減が図れます。 ※ STIL（Standard Test Interface Language「スタイル」と呼びます）は、1999年3月にIEEE Std 1450-1999として承認された業界標準のテストデータの記述言語です。現在も言語拡張に向けて標準化が進められています。 ■半導体故障解析・回路修正・テストサービス（別ウィンドウで開きます） 半導体の故障解析サービス/回路修正サービス/テストサービスを提供いたします。 デバイス単体、マニュアル評価環境、もしくはLSIテスタ等で故障を再現させ各種解析装置(エミッション顕微鏡、IR-OBIRCH、EBテスタ、ナノプローバ等)と接続することで様々な故障解析サービスを提供いたします。 LSIテスタを利用する際に必要なテスト環境も提供可能です。 FIB加工装置を用いた回路修正サービスでは、Cu配線、Low-k膜製品も加工できます。 故障解析/回路修正の前に必要なパッケージ開封やポリイミド膜剥離等前処理も行います。 評価、量産時の様々な製品テストに関わるサービスを提供いたします。 ■東芝マイクロコンピュータセミナー マイクロコンピュータの初歩から演習まで、経験豊富な講師と充実した設備によって構成されたワークショップ形式の無料セミナーです。本セミナーは、企業や学校に在籍し、マイクロコンピュータに関する知識を習得されたい方を対象に株式会社東芝 セミコンダクター＆ストレージ社と共同開催しております。 ▲このページのトップへ