世界初の65ナノメートル世代DRAM混載システムLSI技術の開発について 2002年12月3日
株式会社 東芝 株式会社 東芝(以下、東芝)とソニー株式会社(同、ソニー)は、世界で初めて65ナノメートル(nm)世代のSoC(システム・オン・チップ)向けDRAM混載CMOS技術を開発しました。 ブロードバンド時代では、動画像など大容量データの通信が増大しており、大量のデータを高速で処理するLSIが求められています。このため、1つのチップ上に高性能のマイクロプロセッサと、大容量メモリを同時に形成する技術への要求が増大しています。 65nm世代のシステムLSI技術として両社は、(1)世界最速のスイッチングスピードの高性能トランジスタ、(2)世界最小の混載DRAMセル、(3)世界最小の混載SRAMセルなどを実現し、高性能マイクロプロセッサと大容量メモリを搭載できる次世代のシステムLSI技術を確立しました。 なお、今回の成果については、12月9日から米国サンフランシスコ市で開催されるIEDM(国際電子デバイス会議)において、昨年の90nm世代に続き、両社共同で発表する予定です(論文名「65nm CMOS Technology (CMOS5) with High Density Embedded Memories for Broadband Microprocessor Applications 」)。 開発の背景 90年代後半からのインターネット時代は、情報量と通信速度の増加をもたらしており、これによってLSIが単位時間に処理すべきデータ量は飛躍的に増加しています。この急速なデータの増大に対して高速でデータ処理するため、1つのチップ上に高性能マイクロプロセッサと、大容量メモリを同時に形成する技術への要求がますます強くなっています。 開発の概要 65nm世代のシステムLSI技術として、次の4つの技術を確立しました。
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