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東芝AI技術カタログ

パターン分析・分類パターン分析

製造不良データ分析

大量の製造不良データを分析して生産性を向上します。

  • ・検査データから不良の原因となった工程を推定して早期対処を可能にします。
  • ・東芝の半導体製造現場で活用されています。
製造不良データ分析イメージ
  • ※再生ボタンをクリックすると、YouTubeに掲載している動画が再生されます。
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応用先

  • ・製造現場の歩留解析

ベンチマーク・強み・実績

  • ・International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM) 2016 Best Paper Award
  • ・2016年度 人工知能学会 現場イノベーション賞・金賞
  • ・東芝グループの製造拠点に適用

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問合せの際はタイトル[AI技術カタログ:製造不良データ分析]やURLを文面に含めてください。
本技術は研究開発中のためご要望にすぐに対応できない可能性があります。

参考文献: